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64D半自动闭塞测试系统开发

Development of 64D Semi-automatic Block Test System

    摘要
  • 摘要: 根据64D半自动闭塞的技术要求和工作原理,设计出一种新的继电半自动闭塞设备的电子化测试系统,并对其硬件和软件设计作了详细说明,同时对该测试系统代替现有的64D半自动闭塞设备进行探讨.该测试系统的设计遵循"故障-安全"原则,保证了系统的安全性和可靠性.

     

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